超声无损检测设备的性能由多项技术参数决定，这些参数直接影响检测精度、分辨率和适用场景。以下是关键参数的分类详解：
| 参数 | 说明 | 典型值/范围 | 影响 |
|---|---|---|---|
| 频率（Frequency） | 超声波工作频率，决定穿透力和分辨率。 | 0.5 MHz ~ 25 MHz | 高频（>5MHz）分辨率高但穿透浅；低频（<2MHz）穿透深但分辨率低。 |
| 探头类型 | - 单晶探头：通用型 - 双晶探头（TR）：测厚专用 - 相控阵探头（PA）：多角度扫查 | 根据检测需求选择 | 相控阵探头灵活性高，但成本昂贵。 |
| 晶片尺寸 | 探头晶片直径或边长。 | 5 mm ~ 30 mm | 大晶片穿透力强，小晶片近场分辨率高。 |
| 脉冲电压 | 发射脉冲的电压幅值。 | 50 V ~ 400 V | 高压提高信噪比，但可能损伤探头。 |
| 重复频率（PRF） | 每秒发射脉冲次数。 | 100 Hz ~ 10 kHz | 高PRF适合高速扫查，但可能产生混响干扰。 |
| 参数 | 说明 | 典型值/范围 | 测试标准 |
|---|---|---|---|
| 分辨率 | 区分相邻缺陷的能力，分轴向和横向分辨率。 | 轴向：0.1 mm ~ 2 mm 横向：1 mm ~ 5 mm | 高频探头和小晶片提高分辨率。 |
| 探测深度 | 最大有效检测深度（与频率和材料衰减相关）。 | 钢：0.1 m ~ 10 m | 低频探头和高压脉冲增加穿透深度。 |
| 增益范围 | 信号放大能力（dB）。 | 0 dB ~ 110 dB | 高增益检测小缺陷，但可能引入噪声。 |
| 声速范围 | 可设置的超声波在材料中的传播速度。 | 1000 m/s ~ 8000 m/s | 需根据材料校准（如钢：5920 m/s，铝：6320 m/s）。 |
| 阻尼系数 | 控制脉冲持续时间，影响盲区大小。 | 50 Ω ~ 500 Ω | 高阻尼减少盲区，但降低灵敏度。 |
| 参数 | 说明 | 选项/示例 | 应用场景 |
|---|---|---|---|
| 显示模式 | - A扫描：波形显示 - B扫描：截面图 - C扫描：俯视图 - S扫描：扇形扫描（PAUT） | 多模式切换 | A扫描用于缺陷定性，B/C扫描用于成像。 |
| 数据存储 | 支持的数据格式和容量。 | CSV、DICONDE，32 GB ~ 1 TB | DICONDE符合航空航天标准（如NAS410）。 |
| 通信接口 | 数据传输方式。 | USB、Wi-Fi、蓝牙、Ethernet | 工业环境优选有线接口（抗干扰）。 |
| 防水防尘等级 | 设备防护能力（IP等级）。 | IP65（防尘防水）、IP67（短暂浸泡） | 野外检测需IP67以上。 |
| 电池续航 | 连续工作时间（如便携式设备）。 | 4 h ~ 12 h | 高温环境续航可能下降。 |
| 参数 | 说明 | 典型配置 | 优势 |
|---|---|---|---|
| 阵元数量 | 相控阵探头阵元数，决定聚焦灵活性。 | 16、32、64、128阵元 | 阵元越多，成像质量越高。 |
| 偏转角度 | 声束偏转范围（PAUT）。 | -60° ~ +60° | 大角度覆盖复杂几何形状。 |
| 聚焦法则 | 动态聚焦的电子延迟模式。 | 线性、扇形、深度自适应 | 提升缺陷检出率。 |
| TOFD模式 | 衍射时差法的探头配置。 | PCS（探头间距）可调 | 需精确校准PCS和探头角度。 |
| 参数 | 说明 | 要求 |
|---|---|---|
| 工作温度 | 设备正常运行的温度范围。 | -10°C ~ 50°C（工业级） |
| 电磁兼容性（EMC） | 抗电磁干扰能力。 | 符合EN 61326-1标准 |
| 抗震性能 | 耐受振动等级（如车载检测）。 | MIL-STD-810G（军用标准） |
常规UT检测：
频率：2 MHz ~ 5 MHz（钢件）、5 MHz ~ 10 MHz（薄板或复合材料）。
探头：单晶直探头或斜探头（根据缺陷取向选择角度）。
高精度PAUT检测：
阵元数≥32，支持实时S扫描和B扫描成像。
野外作业：
选择IP67防护、电池续航≥8小时的便携设备（如奥林巴斯EPOCH 650）。
国际标准：
ASTM E317（UT仪器性能评估）
EN 12668-1（UT设备通用要求）
行业标准：
API 5UE（石油管道UT检测）
ASME BPVC Section V（压力容器）
Copyright © 2024 湖南谛通科技有限公司 All Rights Reserved. 湘ICP备2024046850号 XML地图
技术支持：谛通科技
扫一扫咨询微信客服服务热线
