可以,但直接用没有样品的峰值电压(即通过空气或直接耦合的电压)来计算,通常是不准确的。科学且准确的做法,是用有样品时的电压与通过一个参考物质(如不放置样品时的耦合剂)的电压进行比较-。
简单来说,直接用“没有样品”的电压会引入巨大误差,因为超声波在空气或探头间的传播条件,与穿过样品时完全不同。
1. 为什么“没有样品”的电压不能直接作为参考?
在超声透射法中,我们真正想测量的是样品本身对声波的衰减。如果直接用“没有样品”的电压(即发射探头和接收探头直接通过空气或耦合剂相对),这个“空采”信号里包含了以下所有因素:
如果直接用这两者相减,计算出的衰减系数实际上是 “样品+路径改变+系统损耗变化” 的混合体,而不是样品本身的衰减系数。
2. 正确的做法:参考物质法
正确的做法是引入一个参考物质,采用比较法进行计算-。
核心公式如下:
α≈20log10(Aref/Asam)d(单位: dB/m)α≈d20log10(Aref/Asam)(单位: dB/m)这个公式成立的关键前提是:测量参考信号和测量样品信号时,必须保持测试系统(探头距离、仪器设置、耦合条件等)完全一致-1。只有这样,两次测量结果相减,才能抵消掉系统固有的损耗,从而分离出样品独有的贡献。
3. 如果需要更精确的测量:修正界面反射
对于更高精度的测量需求,上述公式还需要考虑一个重要修正:界面反射损耗-。
当样品与参考物质(或耦合剂)的声阻抗不同时,超声波在界面上会发生反射和透射,造成能量损失。如果不修正这一项,计算出的结果其实是“表观衰减”(包含了反射损失),而非材料的“本征衰减”-。
精确的修正公式会包含以下项-:
α=1d[20log10(ArefAsam)+αrefdref−Lossinterface]α=d1[20log10(AsamAref)+αrefdref−Lossinterface]其中,LossinterfaceLossinterface 就是需要根据声阻抗计算的界面反射损失。
总结