光测量无损检测设备是一类利用光学原理和技术对材料或构件进行非破坏性检测的设备,广泛应用于工业、航空航天、汽车制造、电子、医疗等领域。这类设备通过光与物质的相互作用(如反射、散射、干涉等)获取被测对象的表面或内部信息,从而检测缺陷、应力、形变、厚度等参数。以下是常见的光测量无损检测技术及设备:
原理:利用低相干光的干涉原理,通过扫描获取材料内部或生物组织的微观结构图像。
应用:
检测复合材料的分层、孔隙等内部缺陷。
医疗领域(如眼科、皮肤科成像)。
半导体行业的薄膜厚度测量。
原理:通过脉冲激光激发超声波,再用激光干涉仪检测超声波的传播,分析材料内部缺陷或力学性能。
应用:
高温或复杂形状部件的缺陷检测(如航空发动机叶片)。
金属、复合材料的内部裂纹检测。
原理:通过对比变形前后的图像(散斑图案),计算全场位移和应变分布。
应用:
材料力学性能测试(如拉伸、疲劳试验)。
焊接接头的应变分析。
结构件在载荷下的形变监测。
原理:利用激光散斑干涉技术检测物体表面的微小变形,识别缺陷引起的异常应变场。
应用:
轮胎、蜂窝结构的脱粘检测。
航空航天复合材料的无损评估。
光热激发:通过激光或闪光灯加热材料表面,用红外相机记录温度场变化,检测内部缺陷。
应用:
金属铸件的气孔、裂纹检测。
建筑结构的渗水或空鼓检测。
原理:通过高能激光激发材料产生等离子体,分析其发射光谱成分。
应用:
金属合金的成分分析。
涂层或污染物的元素检测。
原理:利用激光全息记录物体表面的微小变形,通过干涉条纹分析缺陷或振动模式。
应用:
微电子器件的振动分析。
艺术品或文物内部结构的检测。
原理:通过共聚焦光路获取材料表面或近表面的高分辨率三维图像。
应用:
半导体晶圆表面粗糙度测量。
生物细胞或薄膜涂层的形貌分析。
原理:利用光纤中的光信号变化(如布拉格光栅)监测应变、温度或振动。
应用:
大型结构(桥梁、管道)的健康监测。
高温或强电磁环境下的实时检测。
原理:通过激发材料荧光或磷光信号,检测表面裂纹或涂层均匀性。
应用:
涡轮叶片的热障涂层检测。
生物医学材料的降解分析。
优势:
非接触、高分辨率、可实时成像。
适用于复杂形状或敏感材料。
局限性:
部分技术对表面清洁度要求高。
深层内部缺陷检测能力有限(如OCT仅限毫米级深度)。
根据检测需求选择技术:
表面缺陷:DIC、剪切散斑、共聚焦显微镜。
内部缺陷:OCT、激光超声、红外热成像。
成分分析:LIBS。
动态监测:光纤传感、全息干涉。
如果需要更具体的设备推荐或技术对比,可进一步说明应用场景(如被测材料、缺陷类型等)。
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