超声无损检测设备如何测试缺陷深度

缺陷的深度位置（d）可以通过视差法确定，如图4所示。射线照片从两个相对的角度曝光。所需的辐射量平均分配给位置A和B。只使用一张胶片。
胶片上缺陷图像的位移（G，以mm为单位）是深度位置的一个衡量标准；源的位移（从A到B，以mm为单位）和源到胶片的距离（H，以mm为单位）是重要数据。深度位置用公式计算：d = (GxH) / (AB+G)。

另一种更复杂的深度确定方法是立体射线照相术，通过这种方法曝光两张单独的胶片，然后通过镜子同时观看。
然而，这种方法很少被使用。

实际检测中，谛通超声扫描显微镜的B扫功能可以实现测试缺陷深度。

谛通超声扫描显微镜